MS-60:UNC,無(wú)磨損,容許有很多深刮痕或發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度可能不完全。
MS-61:UNC+,無(wú)磨損,容許有多處深刮痕或發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度可能不完全。
MS-62:UNC++,無(wú)磨損,容許有較少處刮痕或發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度可能不完全。
MS-63:BU,無(wú)磨損,容許有一般大小的刮痕或發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度可能不完全。
MS-64:BU+,僅有少數(shù)的刮痕或僅有一、二個(gè)較嚴(yán)重的刮痕或發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度中等。
MS-65:Choice BU,可能有較小/不重要的刮痕或發(fā)絲,但焦點(diǎn)區(qū)域無(wú)刮痕及發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度中等以上。
MS-66:Choice BU+,有一、二個(gè)細(xì)微較?。恢匾墓魏刍虬l(fā)絲,但焦點(diǎn)區(qū)域無(wú)刮痕及發(fā)絲,鑄紋辨識(shí)度良好。
MS-67:GEM BU,乍看像剛鑄造的,細(xì)看可能有較?。恢匾娜毕荩浅:玫蔫T紋辨識(shí)度。
MS-68:GEM BU+,乍看像剛鑄造的,細(xì)看可能有細(xì)微的缺陷,非常好的鑄紋辨識(shí)度。
MS-69:GEM BU++,接近完美品,但細(xì)看可能有微小的缺陷,需接近完全的鑄紋辨識(shí)度。
MS-70:完美品,即使在10倍的放大鏡下看,也完全無(wú)接觸的痕跡,完美的鑄紋辨識(shí)度(較知名的鑒定機(jī)構(gòu)如PCGS、NGC及ANACS極少有此評(píng)等)。